ISBN/价格: | 978-7-5607-6952-3:CNY26.00 |
作品语种: | chi |
出版国别: | CN 370000 |
题名责任者项: | 半导体物理与器件实验教程/.计峰主编 |
出版发行项: | 济南:,山东大学出版社:,2023 |
载体形态项: | 129页:;+图:;+26cm |
丛编项: | 集成电路科学与工程类新工科系列教材 |
提要文摘: | 本书主要分为半导体物理实验及半导体器件实验两部分。半导体物理实验包括单晶硅材料的激光定向、单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示、半导体材料导电类型测定、四探针法测试半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导法测少子寿命、半导体材料光学特性的测量、MOS结构C-V特性测量、PN结势垒特性及杂质的测试分析、PN结正向特性的研究和应用等十个实验。半导体器件实验包括二极管特性参数测量、稳压二极管特性测量、双极型晶体管直流参数测量、场效应管直流参数测量、晶体管基极电阻测量、晶体管特征频率测量、数字电桥测量电位器的电阻值、集成电路特性测量、太阳能电池测量等十个实验。 |
并列题名: | Experimental course of semiconductor physics and devices eng |
题名主题: | 半导体物理 实验 |
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题名主题: | 半导体器件 实验 |
中图分类: | O47-33 |
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中图分类: | TN303-33 |
个人名称等同: | 计峰 主编 |
记录来源: | CN 湖北三新 20240531 |