ISBN/价格: | 978-7-03-076918-3:CNY88.00 |
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作品语种: | chi swe |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 片上系统测试设计与优化/.(瑞典) 埃里克·拉森著/.Erik Larsson/.孙仁杰译 |
出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2024 |
载体形态项: | x, 314页:;+图:;+26cm |
提要文摘: | 本书旨在讨论片上系统 (SoC) 测试的相关问题, 包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂, 测试数据量不断增加, 如何组织测试, 即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成, 在概述经典测试方法的基础上, 介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难, 并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。 |
并列题名: | Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization eng |
题名主题: | 微型计算机 系统测试 |
中图分类: | TP360.21 |
个人名称等同: | 拉森 著 |
个人名称次要: | 孙仁杰 译 |
记录来源: | CN 湖北三新 20240531 |